Mediciones de perfiles en obleas de silicio

Medición de perfiles de obleas de silicón = WATOM

La familia de equipos WATOM realiza mediciones totalmente automáticas de perfiles y diámetros de acuerdo a la normalización de la industria de los semiconductores. La característica principal de estos equipos es la habilidad de tomar mediciones de marcas de corte en las obleas de silicón para indicar la orientación de los cristales. Debido a su alta exactitud de 1,5 µm, los fabricantes de obleas de silicón en todo el mundo emplean los WATOM para la realización de procesos de control de calidad.